Резултати

еНаука >  Резултати >  Interface and oxide state behaviors of commercial n-channel power MOSFETs during high electric field stress and thermal annealing at 150 °C
Назив: Interface and oxide state behaviors of commercial n-channel power MOSFETs during high electric field stress and thermal annealing at 150 °C
Аутори: Ristić, Goran  ; Vasović, Nikola D
Година: 2011
Публикација: Semiconductor Science and Technology
ISSN: 0268-1242 Semiconductor Science and Technology Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 26 br. 8 str. 085019-085019
DOI: 10.1088/0268-1242/26/8/085019
WoS-ID: 000293895900020
Scopus-ID: 2-s2.0-80051960428
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/446508
Извор метаподатака: Migrirano iz RIS podataka
М-категорија: 
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21

2
SCOPUSTM
1
OpenCitations
2
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.