NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors

Davidović, Vojkan; Danković, Danijel; Ilic, Aleksandar; Manić, Ivica; Golubović, Snežana; Đorić-Veljković, Snežana; Prijić, Zoran; Stojadinović, Ninoslav

Резултати

еНаука > Резултати > NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors

Назив:	NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors
Аутори:	Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Ilic, Aleksandar; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav
Година:	2016
Публикација:	IEEE Transactions on Nuclear Science
ISSN:	0018-9499 IEEE Transactions on Nuclear Science Претражи идентификатор
Издавач:	United States : Institute of Electrical and Electronics Engineers
Тип резултата:	Научни чланак
Колација:	vol. 63 br. 2 str. 1268-1275
DOI:	10.1109/tns.2016.2533866
WoS-ID:	000375035800023
Scopus-ID:	2-s2.0-84964290783
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/467958
Извор метаподатака:	Migrirano iz RIS podataka
М-категорија:	21M21 - Рад у врхунском међ. часопису

27
SCOPUS^TM

21
OpenCitations

24
WEB OF SCIENCE^TM

Алт метрика

Dimensions

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.