Резултати
| Назив: | NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors | Аутори: | Davidović, Vojkan |
Година: | 2016 | Публикација: | IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | ISSN: | 0018-9499 IEEE Transactions on Nuclear Science Претражи идентификатор |
Издавач: | United States : Institute of Electrical and Electronics Engineers | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 63 br. 2 str. 1268-1275 | DOI: | 10.1109/tns.2016.2533866 | WoS-ID: | 000375035800023 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84964290783 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/467958 | Пројекат: | Ministry of Education, Science and Technological Development of the Republic of Serbia [OI-171026] | Извор метаподатака: | Migracija | М-категорија: | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.