Rezultati
| Naziv: | NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors | Autori: | Davidović, Vojkan |
Godina: | 2016 | Publikacija: | IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | ISSN: | 0018-9499 IEEE Transactions on Nuclear Science Pretraži identifikator |
Izdavač: | United States : Institute of Electrical and Electronics Engineers | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 63 br. 2 str. 1268-1275 | DOI: | 10.1109/tns.2016.2533866 | WoS-ID: | 000375035800023 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84964290783 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/467958 | Projekat: | Ministry of Education, Science and Technological Development of the Republic of Serbia [OI-171026] | Izvor metapodataka: | Migracija | M-kategorija: | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.