Резултати
еНаука >
Резултати >
Simulated Effects of Proton and Ion Beam Irradiation on Titanium Dioxide Memristors
| Назив: | Simulated Effects of Proton and Ion Beam Irradiation on Titanium Dioxide Memristors | Аутори: | Vujisić, Miloš |
Година: | 2010 | Публикација: | IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | ISSN: | 0018-9499 IEEE Transactions on Nuclear Science Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 57 br. 4 str. 1798-1804 | DOI: | 10.1109/tns.2010.2045512 | WoS-ID: | 000283074500009 | Scopus-ID: | 2-s2.0-77955822780 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/467960 http://zaposleni.etf.bg.ac.rs/rest/sciNaucniRezultati/oai/record/2/502543 |
Извор метаподатака: | Migracija | М-категорија: | 21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.