Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Simulated Effects of Proton and Ion Beam Irradiation on Titanium Dioxide Memristors
| Naziv: | Simulated Effects of Proton and Ion Beam Irradiation on Titanium Dioxide Memristors | Autori: | Vujisić, Miloš |
Godina: | 2010 | Publikacija: | IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | ISSN: | 0018-9499 IEEE Transactions on Nuclear Science Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 57 br. 4 str. 1798-1804 | DOI: | 10.1109/tns.2010.2045512 | WoS-ID: | 000283074500009 | Scopus-ID: | 2-s2.0-77955822780 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/467960 http://zaposleni.etf.bg.ac.rs/rest/sciNaucniRezultati/oai/record/2/502543 |
Izvor metapodataka: | Migracija | M-kategorija: | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.