Резултати
еНаука >
Резултати >
Simulation of Bulk Traps Influence on the Electrical Characteristics of VDMOS Transistor
| Назив: | Simulation of Bulk Traps Influence on the Electrical Characteristics of VDMOS Transistor | Аутори: | Pantić, Dragan   ; Aleksić, Sanja ; Darko Bjelopavlic |
Година: | 2011 | Публикација: | XLVI International Scientific Conference on Information, Communication and Energy Systems and Technologies - ICEST 2011 | Издавач: | Faculty of Electronic Engineering, University of Niš, Srbija | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-86-6125-031-6  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 271-274 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/470501 | URL: | http://www.mtt-serbia.org.rs/microwave_review/pdf/Vol17No1-08-ICEST%202011.pdf | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.