Ellipsometric Characterization of Ag-As-S-Se Chalcogenide Thin Films

Čajko, Kristina O.; Svetlana Lukić-Petrović; Tomas Wagner; Jan Prikryl; Dragoslav Petrović

Резултати

еНаука > Резултати > Ellipsometric Characterization of Ag-As-S-Se Chalcogenide Thin Films

Назив:	Ellipsometric Characterization of Ag-As-S-Se Chalcogenide Thin Films
Аутори:	Čajko, Kristina O. ; Svetlana Lukić-Petrović ; Tomas Wagner; Jan Prikryl; Dragoslav Petrović
Година:	2017
Публикација:	NANOENERGY 4th International Conference on Nanotechnology, Nanomaterials and Thin Films for Energy Applications Abstract Book, 4th International Conference on Nanotechnology, Nanomaterials and Thin Films for Energy Applications, NANOENERGY 2017, Helsinki, Finland, 2017, 26-28 July
Издавач:	Aalto University, Finland, Aalto, Finland
Тип резултата:	Конференцијски рад
Колација:	str. 8-8
URI:	https://www.cris.uns.ac.rs/record.jsf?recordId=105717&source=eNauka&language=en https://enauka.gov.rs/handle/123456789/481182
Извор метаподатака:	Migracija
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.