Ellipsometric Characterization of Ag-As-S-Se Chalcogenide Thin Films

Čajko, Kristina O.; Svetlana Lukić-Petrović; Tomas Wagner; Jan Prikryl; Dragoslav Petrović

Rezultati

eNauka > Rezultati > Ellipsometric Characterization of Ag-As-S-Se Chalcogenide Thin Films

Naziv:	Ellipsometric Characterization of Ag-As-S-Se Chalcogenide Thin Films
Autori:	Čajko, Kristina O. ; Svetlana Lukić-Petrović ; Tomas Wagner; Jan Prikryl; Dragoslav Petrović
Godina:	2017
Publikacija:	NANOENERGY 4th International Conference on Nanotechnology, Nanomaterials and Thin Films for Energy Applications Abstract Book, 4th International Conference on Nanotechnology, Nanomaterials and Thin Films for Energy Applications, NANOENERGY 2017, Helsinki, Finland, 2017, 26-28 July
Izdavač:	Aalto University, Finland, Aalto, Finland
Tip rezultata:	Konferencijski rad
Kolacija:	str. 8-8
URI:	https://www.cris.uns.ac.rs/record.jsf?recordId=105717&source=eNauka&language=en https://enauka.gov.rs/handle/123456789/481182
Izvor metapodataka:	Migracija
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.