Резултати

еНаука >  Резултати >  Symbolic analysis of faulty logic circuits in the presence of correlated gate failures
Назив: Symbolic analysis of faulty logic circuits in the presence of correlated gate failures
Аутори: Brkić, Srđan  ; Ivaniš, Predrag  ; Đorđević, Goran  ; Vasic, Bane
Година: 2013
Публикација: 21st Telecommunications Forum Telfor TELFOR 2013
Издавач: IEEE
Тип резултата: Конференцијски рад
DOI: 10.1109/telfor.2013.6716246
WoS-ID: 000349857500087
Scopus-ID: 2-s2.0-84894349289
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/484555
http://zaposleni.etf.bg.ac.rs/rest/sciNaucniRezultati/oai/record/3/707475
Извор метаподатака: Migracija
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI

Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.