Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Symbolic analysis of faulty logic circuits in the presence of correlated gate failures
Naziv: Symbolic analysis of faulty logic circuits in the presence of correlated gate failures
Autori: Brkić, Srđan ; Ivaniš, Predrag  ; Đorđević, Goran  ; Vasic, Bane
Godina: 2013
Publikacija: 21st Telecommunications Forum Telfor TELFOR 2013
Izdavač: IEEE
Tip rezultata: Konferencijski rad
DOI: 10.1109/telfor.2013.6716246
WoS-ID: 000349857500087
Scopus-ID: 2-s2.0-84894349289
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/484555
http://zaposleni.etf.bg.ac.rs/rest/sciNaucniRezultati/oai/record/3/707475
Projekat: Seventh Framework Programme of the European Union,European Union (EU) [309129]
National Science Foundation (NSF) [CCF-0963726, CCF-1314147]
Izvor metapodataka: Migracija
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

1
SCOPUSTM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.