Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima

Menićanin, Aleksandar; Damnjanović, Mirjana; Živanov, Ljiljana

Резултати

еНаука > Резултати > Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima

Назив:	Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima
Аутори:	Menićanin, Aleksandar ; Damnjanović, Mirjana ; Živanov, Ljiljana
Година:	2010
Публикација:	Institut za multidisciplinarna istraživanja Univerzitet u Beogradu Fakultet tehničkih nauka Univerzitet u Novom Sadu
Издавач:	Institut za multidisciplinarna istraživanja Univerzitet u Beogradu Fakultet tehničkih nauka Univerzitet u Novom Sadu
Тип резултата:	Техничко решење
Колација:	str. 1-8
URI:	http://rimsi.imsi.bg.ac.rs/handle/123456789/3124 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/515953
Пројекат:	Нове конфигурације феритних трансформатора и ЕМИ потискивача за DC/DC конверторе и телекомуникационе модуле
Извор метаподатака:	Migracija
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.