Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima

Menićanin, Aleksandar; Damnjanović, Mirjana; Živanov, Ljiljana

Rezultati

eNauka > Rezultati > Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima

Naziv:	Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima
Autori:	Menićanin, Aleksandar ; Damnjanović, Mirjana ; Živanov, Ljiljana
Godina:	2010
Publikacija:	Institut za multidisciplinarna istraživanja Univerzitet u Beogradu Fakultet tehničkih nauka Univerzitet u Novom Sadu
Izdavač:	Institut za multidisciplinarna istraživanja Univerzitet u Beogradu Fakultet tehničkih nauka Univerzitet u Novom Sadu
Tip rezultata:	Tehničko rešenje
Kolacija:	str. 1-8
URI:	http://rimsi.imsi.bg.ac.rs/handle/123456789/3124 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/515953
Projekat:	Нове конфигурације феритних трансформатора и ЕМИ потискивача за DC/DC конверторе и телекомуникационе модуле
Izvor metapodataka:	Migracija
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.