Results
eNauka >
Results >
Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima
| Title: | Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima | Authors: | Menićanin, Aleksandar |
Issue Date: | 2010 | Publication: | Institut za multidisciplinarna istraživanja Univerzitet u Beogradu Fakultet tehničkih nauka Univerzitet u Novom Sadu | Publisher: | Institut za multidisciplinarna istraživanja Univerzitet u Beogradu Fakultet tehničkih nauka Univerzitet u Novom Sadu | Type: | Technical reports | Collation: | str. 1-8 | URI: | http://rimsi.imsi.bg.ac.rs/handle/123456789/3124 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/515953 |
Project: | Нове конфигурације феритних трансформатора и ЕМИ потискивача за DC/DC конверторе и телекомуникационе модуле | Metadata source: | Migracija | M-category: | Mp. category will be shown later |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.