Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima

Menićanin, Aleksandar; Damnjanović, Mirjana; Živanov, Ljiljana

Results

eNauka > Results > Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima

Title:	Novi prilagodni mikrostrip test stepeni za karakterizaciju standardnih SMD komponenti sa dva i tri kraja pomoću vektorskog analizatora mreža na visokim učestanostima
Authors:	Menićanin, Aleksandar ; Damnjanović, Mirjana ; Živanov, Ljiljana
Issue Date:	2010
Publication:	Institut za multidisciplinarna istraživanja Univerzitet u Beogradu Fakultet tehničkih nauka Univerzitet u Novom Sadu
Publisher:	Institut za multidisciplinarna istraživanja Univerzitet u Beogradu Fakultet tehničkih nauka Univerzitet u Novom Sadu
Type:	Technical reports
Collation:	str. 1-8
URI:	http://rimsi.imsi.bg.ac.rs/handle/123456789/3124 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/515953
Project:	Нове конфигурације феритних трансформатора и ЕМИ потискивача за DC/DC конверторе и телекомуникационе модуле
Metadata source:	Migracija
M-category:	Mp. category will be shown later

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.