Резултати
еНаука >
Резултати >
The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power Vdmosfet
| Назив: | The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power Vdmosfet | Аутори: | Đorić-Veljković, Snežana   ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2013 | Публикација: | NUCLEAR TECHNOLOGY & RADIATION PROTECTION | ISSN: | 1451-3994 Nuclear technology and radiation protection Претражи идентификатор |
Издавач: | Belgrade : Vinča Institute of Nuclear Sciences | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 28 br. 4 str. 406-414 | DOI: | 10.2298/ntrp1304406d | WoS-ID: | 000331597400008 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84894624718 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/534486 | Пројекат: | Ministry of Education, Science and Technological Development of the Republic of Serbia [OI171026] | Извор метаподатака: | Migracija | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.