Rezultati

eNauka >  Rezultati >  The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power Vdmosfet
Naziv: The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power Vdmosfet
Autori: Đorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav 
Godina: 2013
Publikacija: NUCLEAR TECHNOLOGY & RADIATION PROTECTION
ISSN: 1451-3994 Nuclear technology and radiation protection Pretraži identifikator
Izdavač: Belgrade : Vinča Institute of Nuclear Sciences
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 28 br. 4 str. 406-414
DOI: 10.2298/ntrp1304406d
WoS-ID: 000331597400008
Scopus-ID: 2-s2.0-84894624718
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/534486
Projekat: Ministry of Education, Science and Technological Development of the Republic of Serbia [OI171026]
Izvor metapodataka: Migracija
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

5
SCOPUSTM
6
OpenCitations
6
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.