Резултати
еНаука >
Резултати >
Radiation characteristics for HFO2 and SIO2 incorporated in electronic component with mos structure in fields of gamma and x-radiation
| Назив: | Radiation characteristics for HFO2 and SIO2 incorporated in electronic component with mos structure in fields of gamma and x-radiation | Аутори: | Stanković, Srboljub J. |
Година: | 2018 | Публикација: | RAD 2018 : 6th International Conference on Radiation in Various Fields of Research : Book of abstracts | Издавач: | Niš, Serbia : RAD Centre | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-86-80300-03-0 Претражи идентификатор |
Колација: | str. 247-247 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/549925 https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/11190 |
Извор метаподатака: | Migracija Migrirano iz RIS podataka |
М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |