Резултати
Назив: | Effects of Constant Voltage Stress in Hf-doped Ta2O5 Stacks | Аутори: | Manić, Ivica ![]() ![]() ![]() |
Година: | 2010 | Публикација: | International Conference on Microelectronics (MIEL 2010) | Издавач: | IEEE Serbia and Montenegro Section - ED/SSC Chapter, Srbija | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-1-4244-7198-0![]() ![]() |
Колација: | str. 483-486 | DOI: | 10.1109/MIEL.2010.5490437 | Scopus-ID: | 2-s2.0-77955178256 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/557839 | URL: | http://ieeexplore.ieee.org/xpl/freeabs_all.jsp?arnumber=5490437 | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.