Резултати

еНаука >  Резултати >  Effects of Constant Voltage Stress in Hf-doped Ta2O5 Stacks
Назив: Effects of Constant Voltage Stress in Hf-doped Ta2O5 Stacks
Аутори: Manić, Ivica  ; Elena Atanassova; Stojadinović, Ninoslav ; Dencho Spassov
Година: 2010
Публикација: International Conference on Microelectronics (MIEL 2010)
Издавач: IEEE Serbia and Montenegro Section - ED/SSC Chapter, Srbija
Тип резултата: Конференцијски рад
ISBN: 978-1-4244-7198-0 Претражи идентификатор
Колација: str. 483-486
DOI: 10.1109/MIEL.2010.5490437
Scopus-ID: 2-s2.0-77955178256
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/557839
URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/freeabs_all.jsp?arnumber=5490437
Извор метаподатака: Migrirano iz RIS podataka
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.