Results
| Naziv: | Effects of Constant Voltage Stress in Hf-doped Ta2O5 Stacks | Autori: | Manić, Ivica   ; Elena Atanassova; Stojadinović, Ninoslav ; Dencho Spassov |
Godina: | 2010 | Publikacija: | International Conference on Microelectronics (MIEL 2010) | Izdavač: | IEEE Serbia and Montenegro Section - ED/SSC Chapter, Srbija | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-1-4244-7198-0  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 483-486 | DOI: | 10.1109/MIEL.2010.5490437 | Scopus-ID: | 2-s2.0-77955178256 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/557839 | URL: | http://ieeexplore.ieee.org/xpl/freeabs_all.jsp?arnumber=5490437 | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.