Резултати

еНаука >  Резултати >  Evaluation of thick-film resistor structural parameters based on noise index measurements
Назив: Evaluation of thick-film resistor structural parameters based on noise index measurements
Аутори: Jevtić, M. M.; Stanimirović, Zdravko  ; Stanimirović, Ivanka  
Година: 2001
Публикација: Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор
Издавач: Elsevier
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 41 br. 1 str. 59-66
DOI: 10.1016/s0026-2714(00)00207-9
WoS-ID: 000166353300009
Scopus-ID: 2-s2.0-0035151129
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/768938
Извор метаподатака: (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Zdravko
М-категорија: 
22M22 - Међународни часопис категорије M22

14
SCOPUSTM
11
OpenCitations
15
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.