Results

eNauka >  Rezultati >  Evaluation of thick-film resistor structural parameters based on noise index measurements
Naziv: Evaluation of thick-film resistor structural parameters based on noise index measurements
Autori: Jevtić, M. M.; Stanimirović, Zdravko  ; Stanimirović, Ivanka  
Godina: 2001
Publikacija: Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator
Izdavač: Elsevier
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 41 br. 1 str. 59-66
DOI: 10.1016/s0026-2714(00)00207-9
WoS-ID: 000166353300009
Scopus-ID: 2-s2.0-0035151129
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/768938
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Zdravko
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

14
SCOPUSTM
11
OpenCitations
15
WEB OF SCIENCETM
Altmetric
Dimensions
Unpaywall

Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.