Резултати
| Назив: | High-voltage pulse stressing of thick-film resistors and noise | Аутори: | Stanimirović, Ivanka |
Година: | 2003 | Публикација: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор |
Издавач: | Elsevier | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 43 br. 6 str. 905-911 | DOI: | 10.1016/s0026-2714(03)00094-5 | WoS-ID: | 000183342500011 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0038824189 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/768944 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Zdravko | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.