Results
| Naziv: | High-voltage pulse stressing of thick-film resistors and noise | Autori: | Stanimirović, Ivanka   ; Jevtić, M. M.; Stanimirović, Zdravko |
Godina: | 2003 | Publikacija: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator |
Izdavač: | Elsevier | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 43 br. 6 str. 905-911 | DOI: | 10.1016/s0026-2714(03)00094-5 | WoS-ID: | 000183342500011 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0038824189 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/768944 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Zdravko | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.