Резултати
Назив  : | Low-frequency noise in thick-film structures caused by traps in glass barriers | Аутори: | Mrak, Ivanka   ; Jevtić, M. M.; Stanimirović, Zdravko |
Година: | 1998 | Публикација: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор |
Издавач: | Elsevier | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 38 br. 10 str. 1569-1576 | DOI: | 10.1016/s0026-2714(98)00032-8 | WoS-ID: | 000077151400007 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0009055428 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/768945 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Zdravko | Напомена о доступности: | Пуни текст није јавно доступан | М-категорија: | 23M23 - Међународни часопис категорије M23 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.