Rezultati
Naziv  : | Low-frequency noise in thick-film structures caused by traps in glass barriers | Autori: | Mrak, Ivanka   ; Jevtić, M. M.; Stanimirović, Zdravko |
Godina: | 1998 | Publikacija: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator |
Izdavač: | Elsevier | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 38 br. 10 str. 1569-1576 | DOI: | 10.1016/s0026-2714(98)00032-8 | WoS-ID: | 000077151400007 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0009055428 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/768945 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Zdravko | Napomena o dostupnosti: | Пуни текст није јавно доступан | M-kategorija: | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.