Резултати
еНаука >
Резултати >
Low-frequency noise in thick-film resistors due to two-step tunneling process in insulator layer of elemental MIM cell
| Назив: | Low-frequency noise in thick-film resistors due to two-step tunneling process in insulator layer of elemental MIM cell | Аутори: | Jevtić, Milan M.; Stanimirović, Zdravko   ; Mrak, Ivanka |
Година: | 1999 | Публикација: | IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies | ISSN: | 1521-3331 IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies Претражи идентификатор |
Издавач: | Institute of Electrical and Electronics Engineers - IEEE | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 22 br. 1 str. 120-125 | DOI: | 10.1109/6144.759361 | WoS-ID: | 000081031900019 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0033308616 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/769024 https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/14330 |
Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Zdravko | Напомена о доступности: | Пуни текст није доступан ни у електронској, ни у штампаној форми | М-категорија: | 21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.