Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Low-frequency noise in thick-film resistors due to two-step tunneling process in insulator layer of elemental MIM cell
| Naziv: | Low-frequency noise in thick-film resistors due to two-step tunneling process in insulator layer of elemental MIM cell | Autori: | Jevtić, Milan M.; Stanimirović, Zdravko   ; Mrak, Ivanka |
Godina: | 1999 | Publikacija: | IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies | ISSN: | 1521-3331 IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies Pretraži identifikator |
Izdavač: | Institute of Electrical and Electronics Engineers - IEEE | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 22 br. 1 str. 120-125 | DOI: | 10.1109/6144.759361 | WoS-ID: | 000081031900019 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0033308616 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/769024 https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/14330 |
Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Zdravko | Napomena o dostupnosti: | Пуни текст није доступан ни у електронској, ни у штампаној форми | M-kategorija: | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.