Резултати
| Назив: | Thick‐Film Resistor Failure Analysis Based on Low‐Frequency Noise Measurements | Аутори: | Stanimirović, Ivanka   |
Година: | 2017 | Публикација: | Failure Analysis and Prevention | Издавач: | IntechOpen | Тип резултата: | Поглавље у монографији | ISBN: | 978-953-51-3713-9  Претражи идентификатор |
DOI: | 10.5772/intechopen.69442 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/769031 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Ivanka | М-категорија: | 14  MNO za elektrotehniku, telekomunikacije i informacione tehnologije (31.03.2022.)M14 - Монографска студија/поглавље у књизи М12 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.