Rezultati
| Naziv: | Thick‐Film Resistor Failure Analysis Based on Low‐Frequency Noise Measurements | Autori: | Stanimirović, Ivanka  |
Godina: | 2017 | Publikacija: | Failure Analysis and Prevention | Izdavač: | IntechOpen | Tip rezultata: | Poglavlje u monografiji | ISBN: | 978-953-51-3713-9  Pretraži identifikator |
DOI: | 10.5772/intechopen.69442 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/769031 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Ivanka | M-kategorija: | 14  MNO za elektrotehniku, telekomunikacije i informacione tehnologije (31.03.2022.)M14 - Monografska studija/poglavlje u knjizi M12 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.