Rezultati
| Title: | Thick‐Film Resistor Failure Analysis Based on Low‐Frequency Noise Measurements | Authors: | Stanimirović, Ivanka   |
Issue Date: | 2017 | Publication: | Failure Analysis and Prevention | Publisher: | IntechOpen | Type: | Book parts | ISBN: | 978-953-51-3713-9  Search Idenfier |
DOI: | 10.5772/intechopen.69442 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/769031 | Metadata source: | (Preuzeto iz ORCID-a) Stanimirovic, Ivanka | M-category: | 14  MNO za elektrotehniku, telekomunikacije i informacione tehnologije (31.03.2022.)M14 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.