Резултати

еНаука >  Резултати >  Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETs
Назив: Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETs
Аутори: Mitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  
Година: 2022
Публикација: Book of Abstracts – RAD 2022 Conference (Spring Edition)
Издавач: Niš, Serbia : RAD Centre
Тип резултата: Конференцијски рад
ISBN: 978-86-901150-4-4 Претражи идентификатор
Колација: vol. 6 str. 124
DOI: 10.21175/rad.spr.abstr.book.2022.27.10
VBS COBISS: 70851849
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/776662
Извор метаподатака: (Preuzeto iz ORCID-a) Mitrovic, Nikola
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.