Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETs
Naziv: Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETs
Autori: Mitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  
Godina: 2022
Publikacija: Book of Abstracts – RAD 2022 Conference (Spring Edition)
Izdavač: Niš, Serbia : RAD Centre
Tip rezultata: Konferencijski rad
ISBN: 978-86-901150-4-4 Pretraži identifikator
Kolacija: vol. 6 str. 124
DOI: 10.21175/rad.spr.abstr.book.2022.27.10
VBS COBISS: 70851849
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/776662
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz ORCID-a) Mitrovic, Nikola
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.