Резултати
еНаука >
Резултати >
Impact of negative bias temperature instability on p-channel power VDMOSFET used in practical applications
| Назив: | Impact of negative bias temperature instability on p-channel power VDMOSFET used in practical applications | Аутори: | Mitrović, Nikola   ; Veljković, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel |
Година: | 2022 | Публикација: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : Elsevier B. V. | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 138 str. 114634-114634 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2022.114634 | WoS-ID: | 000896860700013 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85142430670 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/776663 | Пројекат: | European Union [857558] Republic of Serbia [451-03-9/2021-14/200102] |
Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Mitrovic, Nikola | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.