Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Impact of negative bias temperature instability on p-channel power VDMOSFET used in practical applications
Naziv: Impact of negative bias temperature instability on p-channel power VDMOSFET used in practical applications
Autori: Mitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  
Godina: 2022
Publikacija: Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator
Izdavač: United Kingdom : Elsevier B. V.
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 138 str. 114634-114634
DOI: 10.1016/j.microrel.2022.114634
WoS-ID: 000896860700013
Scopus-ID: 2-s2.0-85142430670
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/776663
Projekat: European Union [857558]
Republic of Serbia [451-03-9/2021-14/200102]
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz ORCID-a) Mitrovic, Nikola
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

11
SCOPUSTM
9
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.