Резултати

еНаука >  Резултати >  Modeling of Static Negative Bias Temperature Stressing in p-channel VDMOSFETs using Least Square Method
Назив: Modeling of Static Negative Bias Temperature Stressing in p-channel VDMOSFETs using Least Square Method
Аутори : Mitrović, Nikola  ; Ranđelović, Branislav  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav 
Година: 2020
Публикација: Informacije MIDEM - Journal of Microelectronics, Electronic Components and Materials
ISSN: 2232-6979 Informacije Midem. Journal of Microelectronics, Electric Components and Materials Претражи идентификатор
Издавач: Drustvo {MIDEM}
Тип резултата: Научни чланак
DOI: 10.33180/InfMIDEM2020.305
WoS-ID: 000592954500005
Scopus-ID: 2-s2.0-85102304976
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/776717
Пројекат: Ministry of Education, Science and Technological Development of the Republic of Serbia
Serbian Academy of Science and Arts
Извор метаподатака: (Preuzeto iz ORCID-a) Mitrovic, Nikola
М-категорија: 
23M23 - Међународни часопис категорије M23

6
SCOPUSTM
3
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.