Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Modeling of Static Negative Bias Temperature Stressing in p-channel VDMOSFETs using Least Square Method
Naziv: Modeling of Static Negative Bias Temperature Stressing in p-channel VDMOSFETs using Least Square Method
Autori : Mitrović, Nikola  ; Ranđelović, Branislav  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav 
Godina: 2020
Publikacija: Informacije MIDEM - Journal of Microelectronics, Electronic Components and Materials
ISSN: 2232-6979 Informacije Midem. Journal of Microelectronics, Electric Components and Materials Pretraži identifikator
Izdavač: Drustvo {MIDEM}
Tip rezultata: Naučni članak
DOI: 10.33180/InfMIDEM2020.305
WoS-ID: 000592954500005
Scopus-ID: 2-s2.0-85102304976
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/776717
Projekat: Ministry of Education, Science and Technological Development of the Republic of Serbia
Serbian Academy of Science and Arts
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz ORCID-a) Mitrovic, Nikola
M-kategorija: 
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23

6
SCOPUSTM
3
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.