Резултати

еНаука >  Резултати >  Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs
Назив: Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs
Аутори: Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima
Година: 2006
Публикација: IEE proceedings. Circuits, devices and systems
ISSN: 1350-2409 IEE Proceedings: Circuits Devices and Systems Претражи идентификатор
Издавач: United Kingdom : IET
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 153 br. 3 str. 281-288
DOI: 10.1049/ip-cds:20050050
WoS-ID: 000239557500012
Scopus-ID: 2-s2.0-33745289583
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/797780
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
22M22 - Међународни часопис категорије M22

23
SCOPUSTM
17
OpenCitations
23
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.