Резултати
| Назив: | Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs | Аутори: | Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2006 | Публикација: | IEE proceedings. Circuits, devices and systems | ISSN: | 1350-2409 IEE Proceedings: Circuits Devices and Systems Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : IET | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 153 br. 3 str. 281-288 | DOI: | 10.1049/ip-cds:20050050 | WoS-ID: | 000239557500012 | Scopus-ID: | 2-s2.0-33745289583 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/797780 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.