Results

eNauka >  Rezultati >  Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs
Naziv: Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs
Autori: Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima
Godina: 2006
Publikacija: IEE proceedings. Circuits, devices and systems
ISSN: 1350-2409 IEE Proceedings: Circuits Devices and Systems Pretraži identifikator
Izdavač: United Kingdom : IET
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 153 br. 3 str. 281-288
DOI: 10.1049/ip-cds:20050050
WoS-ID: 000239557500012
Scopus-ID: 2-s2.0-33745289583
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/797780
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

23
SCOPUSTM
17
OpenCitations
23
WEB OF SCIENCETM
Altmetric
Dimensions
Unpaywall

Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.