Results
| Naziv: | Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs | Autori: | Stojadinović, Ninoslav |
Godina: | 2006 | Publikacija: | IEE proceedings. Circuits, devices and systems | ISSN: | 1350-2409 IEE Proceedings: Circuits Devices and Systems Pretraži identifikator |
Izdavač: | United Kingdom : IET | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 153 br. 3 str. 281-288 | DOI: | 10.1049/ip-cds:20050050 | WoS-ID: | 000239557500012 | Scopus-ID: | 2-s2.0-33745289583 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/797780 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.