Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs
Naziv: Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs
Autori: Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav 
Godina: 2007
Publikacija: Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator
Izdavač: United Kingdom : Elsevier Ltd.
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 47 br. 9-11 str. 1400-1405
DOI: 10.1016/j.microrel.2007.07.022
WoS-ID: 000250604600017
Scopus-ID: 2-s2.0-34548765411
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/798705
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

14
SCOPUSTM
9
OpenCitations
14
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.