Резултати
еНаука >
Резултати >
Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs
| Назив: | Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs | Аутори: | Danković, Danijel   ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2007 | Публикација: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : Elsevier Ltd. | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 47 br. 9-11 str. 1400-1405 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2007.07.022 | WoS-ID: | 000250604600017 | Scopus-ID: | 2-s2.0-34548765411 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/798705 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.