Influence of polysilicon film thickness on radiation response of advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors

Davidovic, Vojkan S; Kouvatsos, DN; Stojadinovic, Ninoslav D; Voutsas, AT

Резултати

еНаука > Резултати > Influence of polysilicon film thickness on radiation response of advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors

Назив:	Influence of polysilicon film thickness on radiation response of advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors
Аутори:	Davidovic, Vojkan S; Kouvatsos, DN; Stojadinovic, Ninoslav D; Voutsas, AT
Година:	2007
Публикација:	MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN:	0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор
Тип резултата:	Научни чланак
Колација:	vol. 47 br. 9-11 str. 1841-1845
DOI:	10.1016/j.microrel.2007.07.025
WoS-ID:	000250604600100
Scopus-ID:	2-s2.0-34548853691
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/798706
Извор метаподатака:	(Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија:	22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису

13
SCOPUS^TM

9
OpenCitations

10
WEB OF SCIENCE^TM

Алт метрика

Dimensions

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.