Резултати
еНаука >
Резултати >
Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs
| Назив: | Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs | Аутори: | Stojadinović, Ninoslav  ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana |
Година: | 2007 | Публикација: | TELSIKS 2007: 8TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON TELECOMMUNICATIONS IN MODERN SATELLITE, CABLE AND BROADCASTING SERVICES, VOLS 1 AND 2 | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-86-85195-54-9  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 275-282 | WoS-ID: | 000251017900052 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/798738 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
14
WEB OF SCIENCETM
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.