Резултати
| Назив: | Low frequency noise of GaAs MESFET degraded in ESD test | Аутори: | Jevtic, Milan M; Hadzi-Vukovic, Jovan M | Година: | 2006 | Публикација: | 2006 25th International Conference on Microelectronics, Vols 1 and 2, Proceedings | Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | str. 569-572 | WoS-ID: | 000238839700116 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799193 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.