Rezultati
| Naziv: | Low frequency noise of GaAs MESFET degraded in ESD test | Autori: | Jevtic, Milan M; Hadzi-Vukovic, Jovan M | Godina: | 2006 | Publikacija: | 2006 25th International Conference on Microelectronics, Vols 1 and 2, Proceedings | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 569-572 | WoS-ID: | 000238839700116 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799193 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.