Резултати
| Title: | Low frequency noise of GaAs MESFET degraded in ESD test | Authors: | Jevtic, Milan M; Hadzi-Vukovic, Jovan M | Issue Date: | 2006 | Publication: | 2006 25th International Conference on Microelectronics, Vols 1 and 2, Proceedings | Type: | Conference Paper | Collation: | str. 569-572 | WoS-ID: | 000238839700116 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799193 | Metadata source: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-category: | Mp. category will be shown later |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.