Резултати

еНаука >  Резултати >  New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs
Назив: New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs
Аутори: Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav 
Година: 2008
Публикација: 2008 26TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, VOLS 1 AND 2, PROCEEDINGS
Тип резултата: Конференцијски рад
ISBN: 978-1-4244-1881-7 Претражи идентификатор
Колација: str. 599-602
DOI: 10.1109/ICMEL.2008.4559357
WoS-ID: 000257432600128
Scopus-ID: 2-s2.0-51749088799
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799298
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

5
SCOPUSTM
5
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.