New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs

Rezultati

Naziv:	New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs
Autori:	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav
Godina:	2008
Publikacija:	2008 26TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, VOLS 1 AND 2, PROCEEDINGS
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-1-4244-1881-7 Pretraži identifikator
Kolacija:	str. 599-602
DOI:	10.1109/ICMEL.2008.4559357
WoS-ID:	000257432600128
Scopus-ID:	2-s2.0-51749088799
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799298
Izvor metapodataka:	(Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

5
SCOPUS^TM

5
WEB OF SCIENCE^TM

Alt metrika

Dimensions

Unpaywall

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.