Резултати

еНаука >  Резултати >  Study of the electrical cycling stressed large area Schottky diodes using I-V and noise measurements
Назив: Study of the electrical cycling stressed large area Schottky diodes using I-V and noise measurements
Аутори: Jevtic, Milan M; Hadzi-Vukovic, Jovan M
Година: 2007
Публикација: MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 47 br. 1 str. 51-58
DOI: 10.1016/j.microrel.2006.03.013
WoS-ID: 000244006500008
Scopus-ID: 2-s2.0-33845547129
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799340
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
22M22 - Међународни часопис категорије M22

3
SCOPUSTM
1
OpenCitations
3
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.