Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Study of the electrical cycling stressed large area Schottky diodes using I-V and noise measurements
Naziv: Study of the electrical cycling stressed large area Schottky diodes using I-V and noise measurements
Autori: Jevtic, Milan M; Hadzi-Vukovic, Jovan M
Godina: 2007
Publikacija: MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 47 br. 1 str. 51-58
DOI: 10.1016/j.microrel.2006.03.013
WoS-ID: 000244006500008
Scopus-ID: 2-s2.0-33845547129
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799340
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

3
SCOPUSTM
1
OpenCitations
3
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.