Резултати
еНаука >
Резултати >
Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs
| Назив: | Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs | Аутори: | Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav D | Година: | 2004 | Публикација: | 2004 24TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, PROCEEDINGS, VOLS 1 AND 2 | Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | str. 701-704 | WoS-ID: | 000222219300149 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/803510 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.