Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs
| Naziv: | Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs | Autori: | Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S   ; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav D |
Godina: | 2004 | Publikacija: | 2004 24TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, PROCEEDINGS, VOLS 1 AND 2 | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 701-704 | WoS-ID: | 000222219300149 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/803510 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.